Фриц Цернике |
Frits Zernike |
|
Дата рождения: | 16 июля 1888(1888-07-16) |
---|
Место рождения: | Амстердам, Нидерланды |
---|
Дата смерти: | 10 марта 1966(1966-03-10) (77 лет) |
---|
Место смерти: | Амерсфорт, Нидерланды |
---|
Страна: | Нидерланды |
---|
Научная сфера: | физика |
---|
Альма-матер: | Амстердамский университет |
---|
Награды и премии | Медаль Румфорда (1952) Нобелевская премия по физике (1953)
|
---|
Фриц Цернике |
Фриц Цернике (нидерл. Frits Zernike; 16 июля 1888 - 10 марта 1966) - голландский физик, лауреат Нобелевской премии по физике 1953 года «За обоснование фазово-контрастного метода, особенно за изобретение фазово-контрастного микроскопа».
Содержание- Биография
- Основные труды
- Примечания
- Ссылки
Цернике родился в Амстердаме, Нидерланды в семье Карла Фридриха Августа Цернике и Антье Дайперинк. Родители были учителями математики, и он приобрёл страсть отца к физике. Он изучал химию (её основы), математику и физику в университете Амстердама. В 1912 году он был удостоен премии за работу по опалесценции в газах. В 1913 году он стал помощником Якоба Корнелиуса Каптейна в астрономической лаборатории Университета Гронингена. В 1914 году он совместно с Леонардом Орнштейном вывел уравнения Орнштейна - Цернике для теории критической точки. В 1915 году он получил место на кафедре теоретической физики в том же университете, и в 1920 году он был назначен профессором теоретической физики.
В 1930 году Цернике проводит исследования по спектральным линиям и обнаружили, что так называемые призраки линий, которые находятся слева и справа от каждой основной линии в спектрах созданных с помощью дифракционной решетки, имеют сдвиг по фазе от первичной линии на 90 градусов. На физическом и медицинском конгрессе в г. Вагенинген в 1933 году, Цернике впервые описал свой метод фазового контраста в приложении к микроскопии. Он использовал метод, чтобы проверить форму вогнутых зеркал. Его открытие легло в основу первого микроскопа на основе метода фазового контраста, построенный во время Второй мировой войны.
Еще один вклад в области оптики, связанных с эффективным описания дефектов изображений или аберраций оптических систем, таких как микроскопы и телескопы. Представление аберраций первоначально была основана на теории, разработанной Людвигом Зейделем в середине девятнадцатого века. Представление Зейделя было основано на разложении в степенной ряд и не позволяло четкого разделения между различными типами и порядков аберраций. Ортогональные многочлены Цернике позволили решить эту давнюю проблему оптимальной "балансировки" различных аберраций оптических систем. С 1960-х полиномы Цернике широко используются в оптическом дизайне, оптической метрологии и анализе изображений.
Работы Цернике помогли пробудить интерес к теории когерентности, исследованиям частично когерентных источников света. В 1938 году он опубликовал более простой вывод теоремы Ван Циттерта (1934 год) о когерентности излучения от удаленных источников, ныне известный как теорема Ван Циттерта - Цернике.